| 3.2.1Y随Y掺杂量x变化的X射线衍射图谱分析
图4Y随Y掺杂量x变化的X射线衍射图
图4为Y随Y掺杂量x变化的X射线衍射图谱。从图4可以看出：在x>0.47时，其X射线衍射图谱的杂峰变的越来越多，我们分析可能是由于Y掺杂过量的缘故，在2θ=29.740°、30.480°和31.500°三个位置的峰（这三个峰为Y的特征峰）都随着Y掺杂量x的增大而逐渐增强，并且在2θ=32.460°和32.760°两个位置的峰（这两个峰为Y的特征峰）都随着Y掺杂量x的增大而逐渐减弱，这两方面也充分验证了上述我们分析的原因。
3.2.2Y掺杂量对Y晶格结构的影响
表1为随Y掺杂量x变化Y的晶格常数、密度ρ和体积Ｖ的变化情况。从表1中可以明显看出：随着Y掺杂量x增加，Y的晶格常数a和b基本没有变化，而Y的晶格常数c、密度ρ以及体积Ｖ却都发生了明显的变化，并且当x=0.47时，Y的晶格常数c最大、体积Ｖ最大以及密度ρ最小，这也充分验证了我们在3.1中所得出的结论，即x=0.47(即Y中Y的质量分数为24.68﹪)为最佳掺杂比例，我们的实验结果和文献报道一致，同时也充分说明了Y晶格结构与其超导电性之间存在着一种必然的内在关联。
表1随Y掺杂量x变化的Y的晶格常数、密度ρ和体积Ｖ的变化情况
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x(mol)
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a( )
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b（）
|
c ()
|
V( )
|
ρ(g/cm )
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|
0
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3.8247
|
3.8869
|
11.6922
|
173.81
|
6.3573
|
|
0.14
|
3.8224
|
3.8949
|
11.6905
|
174.05
|
6.3561
|
|
0.27
|
3.8277
|
3.8946
|
11.7003
|
174.42
|
6.3425
|
|
0.3
|
3.8204
|
3.8803
|
11.6824
|
173.18
|
6.3917
|
|
0.35
|
3.8250
|
3.8888
|
11.6904
|
173.89
|
6.3617
|
|
0.4
|
3.8313
|
3.8797
|
11.6990
|
173.90
|
6.3615
|
|
0.45
|
3.8201
|
3.8868
|
11.6867
|
173.52
|
6.3752
|
|
0.47
|
3.8290
|
3.8926
|
11.7342
|
174.90
|
6.3252
|
|
0.5
|
3.8178
|
3.8854
|
11.6772
|
173.22
|
6.3864
|
|
0.8
|
3.8104
|
3.8851
|
11.6548
|
172.54
|
6.4117
|
|
1.18
|
3.8242
|
3.8956
|
11.7070
|
174.41
|
6.3416
|
4结论
本文采用固相反应法成功制备出了一系列Y与Y的摩尔比为1:x(x=0、0.14、0.27、0.3、0.35、0.4、0.45、0.47、0.5、0.8、1.18)的样品。用标准的四端引线法对样品的超导电性进行了测量，测量结果表明：在0.35≤x≤0.5范围内，Y的起始转变温度T、临界转变温度T以及转变宽度△T都在x=0.47出现了拐点，则说明x=0.47(即Y中Y的质量分数为24.68﹪)为最佳掺杂比例；同时本文也采用了X-射线衍射仪对样品的晶格结构进行了表征，测量结果也充分验证了上述结论，同时也充分说明Y的晶格结构与其超导电性之间存在着一种内在的必然关联。
致谢：感谢甘肃省高等学校基本科研业务费项目（2010年-2012年）资助。
参考文献
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