表4-1 I/O 缓冲器的特性曲线
关键词 |
特性曲线 |
备注 |
Pullup |
输出状态为高时的Pullup曲线 |
Buffer的上拉晶体管导通,电压范围为-V 到2*V 的数据。其中V =V -V |
Pulldown |
输出状态为低时的Pulldown曲线 |
Buffer的上拉晶体管导通,电压范围为-V 到2*V 的数据。其中V =V -V |
GND Clamp |
输出为高阻的曲线 |
在输出电压的数值小于GND的电压值时的I/V曲线。 |
POWER Clamp |
输出为高阻的曲线 |
在输出电压的数值大于V 的电压值时I/V的曲线。 |
这样我们可以细化瞬态电流调制参数,对于每一组的负载情况,都有一组上拉下拉瞬态电流调制参数对应,我们用Ki,Itable-i,Vtable-i来表示相应的参数。则可以写方程如下:
 
其中等式右边Vtable-i是输出端加在负载电阻上的电压值,这个电压与负载电阻的比值即是流出输出端点的电流。此电流为上拉器件和下拉器件的瞬态电流之和,等于当前输出电压下的稳态电流Itable-i,与调制系数Ki的乘积。从而我们根据方程求出四个调制参数,根据不同的起始激励情况,触发相应的调制参数工作,即去乘上拉下拉稳态曲线,得到最终的仿真结果。
4.2算法改进与结果比较
注意到 IBIS 中C_comp 的生成方法,它是在当前负载下,流过负载的电流除以输出瞬态响应曲线的平均斜率。C_comp 主要影响两个方面,一方面是输出端的阻抗匹配,另外一个方面,它调制着输出波形的斜率。在 IBIS 中生成瞬态响应曲线时,输出缓冲器连接上负载,做瞬态响应,并测量负载处的电压随时间变化的值,显然,C_comp 的作用此时被包括在了输出缓冲器内部,即在图3中的measure point。免费论文参考网。从而Rising waveform 和 Falling waveform 是包含了流过C_comp 电流的结果。在仿真实现时,C_comp 被作为负载又一次的被加入了电路,即在图2中的simulation point,这就两次引入了C_comp 的影响。C_comp 作为输出负载的作用必须被保留,但是必须去除被重复计算的C_comp 带来的影响,对于上图,我们需要去除measure point 处的C_comp,而保留在simulation point 处的C_comp 带来的影响[3]。因此可以将公式修改如下:
----------------------------(4-1)
注意到,在计算流过电容的电流时,需要用对电压微分,对于离散的点而言,可以用相邻时间点上的差分来代替电压的微分,即在t 时刻的电压微分可以表示为:
--------------------------(4-2)

图3 原方法仿真结果比较
图4 消除电容重复计算后仿真结果比较 |
表4-2 传统算法与改进算法的仿真结果比较
比较模型 |
10%Vcc |
90%Vcc |
阈值点电压 |
Spice |
2.948ns |
6.113ns |
4.129ns |
传统算法 |
3.307ns |
6.408ns |
4.401ns |
改进算法 |
2.976ns |
6.052ns |
4.199ns |
分别对改进前和改进后的IBIS模型进行仿真,驱动器的负载是50 欧姆。如上表和仿真图所示,与SPICE 仿真相比较,改进前的误差分别为0.359ns,0.295ns,0.272ns,改进后的误差为0.028ns,0.061ns,0.070ns。改进后的方法极大的降低了重复计算伴随电容带来的误差。
5 结论
随着信号上升时间越来越快,在高速PCB设计过程中必须进行信号完整性仿真分析。利用IBIS模型进行信号完整性分析方便易行。然而,不管选择何种模型和仿真工具,所使用的方法首先必须是有效的。至少,模型的准确性、完整性必需得到保证。文章在遵守现有IBIS标准的前提下,从去除重复电容计算的角度,提出了一种对IBIS模型进行修正的方法,能够较好的消除部分因为计算不严谨产生的误差。
参考文献:
[1] 石章如, IBIS模型的仿真研究与应用分析[J],武汉理工大学学报·信息与管理工程版,2005(5);9-112.
[2] 蒋建军,项湜伍,IBIS模型在微机系统时钟设计中的应用[J],中北大学学报(自然科学版),2006(4)306-309.
[3] 王骝,用于信号完整性的IBIS建模与仿真方法研究[D],上海交通大学,20071201.
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